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當前位置: 首頁 » 設備館 » 半導體測試設備 » 表面、內部檢測 » X射線檢測儀 »電子元器件X射線檢測站 XT V 130
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    電子元器件X射線檢測站 XT V 130

    產品品牌

    尼康Nikon

    庫       存:

    5

    產       地:

    全國

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:尼康Nikon

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-表面、內部檢測-X射線檢測儀

     電子元器件X射線檢測站 

    XT V 130

    設計緊湊,功能便捷,多功能小型電子部件品質保證檢測系統

      對于陸續(xù)登場的高新電子元器件,表面的檢測已經無法滿足現在客戶的檢測要求。由于內部電子電路的連接短路斷路不可直接觀測,所以高性能的X射線實時檢測顯得如此重要并且有效。針對BGA檢測,多層PCB焊錫檢測而專門開發(fā)出來的XTV130 X射線檢測專用系統,讓PCB電路板的缺陷檢測分析變得更加迅速靈活。其中配置的Inspect-X軟件,讓自動檢測以及電路板自動識別(選配)成為可能,以得到高效的檢測處理能力。

     主要特點

     • 焦點尺寸為3微米的特制微焦點槍源 
    • 16位色深高解析度圖像與圖像處理工具 
    • 可以同時放置多塊樣品電路板的大型托盤 
    • 最大可達60°的傾斜角度觀測 
    • 旋轉樣品托盤(360°連續(xù)旋轉)(選配)

     

    最大可到320倍對感興趣觀測區(qū)域放大 
    最大可傾斜60°的靈活觀測可以發(fā)現立體連接處的問題


    引進功能

     • 電子元器件品質保證檢測用X射線工作站 
    • 不需要特別的編程技術的基于宏的自動化功能 
    • 針對零件特性的合格與否自動判定,離線的可視化檢測以及報告生成
    • 基于VBA可以讓復雜的工序變得簡單自動化 
    • 多軸的方向操作桿讓在線的導航更加直觀 
    • X射線開管式技術讓維護成本更加低廉 
    • 不需要額外保護措施的射線計量安全系統 
    • 占用空間小,重量輕,安裝設置簡單


    用途

     

    BGA缺陷檢測 
    • 電子零件、電路零件 
    • 金線引腳連接故障點、球形虛焊點、金線弧度、芯片粘合、干接合、橋接/短路、內部氣泡、BGA等等 
    • 裝配前/裝配后PCB 
    • 零件的位置偏差,焊縫空隙、橋接、表面裝配等缺陷顯示 
    • 通孔鍍層,多層排列詳細檢查 
    • 晶圓片級芯片規(guī)模封裝(WLCSP) 
    • BGA以及CSP檢測 
    • 非鉛焊錫檢查 
    • 微機電系統MEMS,微光機電系統MOEMS 
    • 電纜,連接器,塑料件等等

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