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太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 THz-NeaSNOM

---30nm光學(xué)信號空間分辨率

太赫茲波段的納米分辨散射式近場光學(xué)顯微-譜儀系統(tǒng)：

neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡neaSNOM，采用專利的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)，有效提取散
射近場信號，在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持極高的信噪比，是目前世界上唯一成熟的s-SNOM產(chǎn) 品。同時(shí)其
贗外差干涉式探測技術(shù)，能夠獲得對近場信號強(qiáng)度和相位的同步成像。

由于專利的全反射式光學(xué)聚焦和獨(dú)一無二的雙光路設(shè)計(jì)，neaSNOM是目前世界上唯一一款可以應(yīng)用于太赫茲波段的近場光學(xué)顯微成像和譜儀系統(tǒng)。全新推出的THz-neaSNOM必將成為廣大太赫茲科研工作者手中的神兵利器。

對有機(jī)和無機(jī)材料同樣適用
封閉式外罩設(shè)計(jì)，減少氣流干擾。
預(yù)先校準(zhǔn)的近場光路，近一步提高穩(wěn)定性
快速成像，并以10nm空間分辨率鑒別納米材料
同步探測近場光學(xué)信號強(qiáng)度、相位并成像
可對單層石墨烯，蛋白質(zhì)有效測量的高敏感度
簡單明了的光路說明和光源選擇指示，培訓(xùn)、操作簡便

產(chǎn)品簡介：

太赫茲（THz）光源波長較大，一般在300微米左右。由于衍射極限的存在，THz遠(yuǎn)場測量系統(tǒng)的光學(xué)空間分辨率一般被限制在150微米左右。該THz光遠(yuǎn)場測量結(jié)果的準(zhǔn)確度經(jīng)常無法滿足對材料科學(xué)研究，尤其是需要納米分辨率的微細(xì)尺度材料分布研究（例如半導(dǎo)體芯片中各個(gè)組成：源極，漏極，柵極）的實(shí)驗(yàn)。THz-NeaSNOM近場光學(xué)顯微鏡的出現(xiàn)為此難題提供了一個(gè)很好的解決方案。

德國Neaspec公司與Fraunhofer IPM在Neaspec公司NeaSNOM近場光學(xué)顯微鏡的基礎(chǔ)上，已經(jīng)成功研發(fā)了一套易用使用且THz系統(tǒng)的空間分辨率達(dá)到30nm的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

THz-NeaSNOM主要技術(shù)參數(shù)與特點(diǎn)：

+優(yōu)于30nm的空間分辨率

+常用THz光范圍：0.1-3THz

+專利設(shè)計(jì)的寬波段拋面鏡

+THz研究可使用商業(yè)化的AFM探針

+THz-TDS使用飛秒激光光源

+簡單易用，穩(wěn)定性高

太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 THz-NeaSNOM

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