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    Bruker 臺階儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-表面形貌測試-臺階儀

    規(guī)格型號：

    Dektak XT

    發(fā)貨期限：

    三個月天

    庫       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    美國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：

    型號：Dektak XT

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-表面形貌測試-臺階儀

     布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術(shù)的全球領(lǐng)導(dǎo)者，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性<5Å。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)業(yè)界領(lǐng)先地位長達四十年的優(yōu)異表面測量技術(shù)，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量。

     

    應(yīng)用：

    納米尺度的表面輪廓測量、薄膜厚度測量、表面形貌測量、應(yīng)力測量和平整度等精密測量，應(yīng)用于微電子、半導(dǎo)體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域

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