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當前位置: 首頁 » 設(shè)備館 » 半導(dǎo)體測試設(shè)備 » 電學性能測試 » 半自動探針臺 »SEMISHARE SM系列探針臺
    包郵 關(guān)注:511

    SEMISHARE SM系列探針臺

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學性能測試-半自動探針臺

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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     特點和用途

    SM系列 探針臺造型小巧,測量精度高,操作方便,符合人機工程學。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)。

    同類案例:北京大學微納加工實驗室,清華大學材料系,成都電子科技大學,中科院半導(dǎo)體所,中科院蘇州納米研究院,世紀晶圓,方正微電子等數(shù)十客戶。

     

    SM探針臺能夠勝任的測試有:

     

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    提問:
     

    chuck尺寸能測哪些規(guī)格的晶元?

    sdmm  2017-08-11

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    服務(wù)熱線

    4001027270

    功能和特性

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