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    MPI 半自動8寸直流/射頻探針臺

    產(chǎn)品品牌

    MPI

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    臺灣

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:MPI

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-半自動探針臺

     TS2000-SE主機
    ERS AirCool制冷低溫系統(tǒng)主機

    測量差異
           MPI公司出品的TS2000-SE 型8寸半自動晶圓測試探針臺是市場上有史以來第一次為200毫米自動化工程探測系統(tǒng)在集成創(chuàng)新的特點專門設計。這些特性是納入MPI ShielDEnvironment™為超低噪音,非常準確和高度可靠的DC/CV, RF和高功率測量。
           The TS2000-SE from MPI is the first ever 200mm automated engineering probe system on the market integrating innovative features specifically designed to reduce the cost of test. These features are incorporated into the MPI ShielDEnvironment™ for ultra-low noise, very accurate and highly reliable DC/CV, RF and High Power measurements.

    關鍵特征




     
    • 一、Automated Single Wafer Loader(自動單片晶圓裝載)
      可以非常方便、直接且直觀地將8寸、6寸、4寸等晶圓直接放在裝載臺上,蓋上暗箱后,全自動裝載樣片。
    • 二、ShielDEnvironment™(市場上最高屏蔽規(guī)格的微暗箱)
    • 三、Safety Test Management STMTM Option (安全測試管理系統(tǒng))
    • 四、Hot/cold wafer swaps at set temperatures (待高低溫樣片互換系統(tǒng))
      一般的加熱、降溫過程是非常緩慢的,當客戶對一片晶圓加熱后,如果需要換片,那需要重復經(jīng)歷冷卻、再升溫的過程,非常耗時。 MPI的晶圓熱/冷互換載臺可以讓客戶省去反復升降溫的等待,自動將樣片裝載出。
    • 五、Vertical Control Environment™ (VCE) (側面輔助光路系統(tǒng))
      當客戶的樣片是柔性、超薄膜、射頻電極等等的時候,我們提供了側面輔助光路系統(tǒng)來直接觀察探針與樣片表面的接觸情況。 配合上Z方向自動對焦顯微鏡,可以使得樣片自動測試過程中,探針與樣片始終保持最佳接觸。
    • 六、ERS patented AC3 cooling technology incorporated
      (ERS冷卻專利技術)
      最新的ERS專利技術,可以快速降溫的同時,減少50%左右的用氣量,極大限度地節(jié)約后續(xù)使用成本。
    • 七、Thermal Chuck Operation (加熱、冷卻功能顯示和操作功能)
      提供專用觸摸顯示屏來顯示溫度值,并可以進行升降溫和保溫時間控制。
    • 九、MPI iMAG® Optics (XYZ全自動對焦顯微鏡)
      MPI自主研發(fā)全系列顯微鏡,這款AMZ12是在XYZ上進行全自動運行,自動對焦的顯微鏡??梢缘玫绞袌錾献畲蟮膱D像放大能力。
      配合上MPI專利的SENTIO軟件,可以對樣片進行自動測量、自動測試。也可以在測試過程中自動XYZ方向補差。
    • 十一、RF Tips (最新設計的RF針尖結構)
    • 八、Integrated Active Vibration Isolation (內(nèi)置主動隔震臺)
    • 十、Software Suite SENTIO® (自動測試軟件)
      MPI總計有40位軟件工程師歷時3年,不斷更新完善,終于面世了這款市場上唯一可觸摸屏直接操作并且可以和顯微鏡、樣品臺等均可聯(lián)動。有效提高操作效率和降低使用的復雜性。


    • (左:MPI的RF探針 / 右:Cascade的RF探針)

    MPI自主設計的RF探針采用最新MEMS技術加工,針尖是向前方呈45°角。因此可以非常直觀地獲悉扎針位置和深度情況。這樣可以極大延長探針使用壽命的前提下還能獲得最佳的接觸位置。反觀傳統(tǒng)的RF探針,必須憑經(jīng)驗和感覺才能知曉扎針落點和接觸情況。

     

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