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    G30U正立式激光干涉儀

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-光學類測試-干涉儀

    產(chǎn)品品牌

    上海乾曜

    庫       存：

    99

    產(chǎn)       地：

    中國-上海市

    數(shù)       量：

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    價       格：

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    品牌：上海乾曜

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-光學類測試-干涉儀

     

    G30U正立式激光干涉儀

     G30U正立式激光干涉儀通光口徑為Φ30mm，鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能，適合光學車間現(xiàn)場的制程檢驗，拼盤檢驗，小批量多品種的光學鏡片檢驗。標配F0.7球面標準鏡頭，選配標準鏡頭有F0.6，F(xiàn)1.0，F(xiàn)1.4，F(xiàn)2.0，F(xiàn)2.8，F(xiàn)5.6，可定制其他F數(shù)的鏡頭；也可選配平面標準鏡及相關治具測量平面鏡。
    主要用途： 球面類光學元件（包括各類玻璃、塑料透鏡、球面反射鏡、光圈量規(guī)、球面軸承等）表面光圈、局部形變的測量，球面曲率半徑的測量（配合光柵尺）。平面類光學元件（平面鏡、水晶、陶瓷、標準量塊等）的表面光圈。

     

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