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SEM/EDS測(cè)試

發(fā)表于：2017-02-15  作者：863test  關(guān)注度：1543

掃描電子顯微鏡+X射線能譜儀(SEM+EDS)

掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像，對(duì)樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，最大放大倍數(shù)可達(dá)30萬(wàn)倍，同時(shí)利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來(lái)對(duì)微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析。

測(cè)試范圍：

SEM的二次電子成像分辨率約3nm

背散射電子成像分辨率約300nm

EDS成分分析的元素范圍Be～U

分析深度約1μm

檢測(cè)下限約1%

空間分辨率約1μm

 

服務(wù)項(xiàng)目：

各種固體材料的形貌分析

微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)

樣品成分的線分布和面分布分析

商家資料

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服務(wù)熱線

4001027270

功能和特性

價(jià)格和優(yōu)惠

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